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发表于 2009-3-3 15:05:10 | 显示全部楼层 |阅读模式

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2.17 主电源% k9 k8 j8 k1 s, U' V" z
% Y$ h9 l4 B( k, i! K
/ i. i: k$ B8 N+ ~9 N; D$ H
AC220V 50/60Hz电源经保险丝FUSE,再通过由CY1、CY2、C1、共模线圈L1组成的滤波电路(针对EMC传导问题而设置,祥见注解),再通过电流互感器至桥式整流器DB,产生的脉动直流电压通过扼流线圈提供给主回路使用;AC1、AC2两端电压除送至辅助电源使用外,另外还通过印于PCB板上的保险线P.F.送至D1、D2整流得到脉动直流电压作检测用途。5 G1 t# w3 v6 Z% y& u" _6 j" W
注解  由于中国大陆目前并未提出电磁炉须作强制性电磁兼容(EMC)认证,基于成本原因,内销产品大部分没有将CY1、CY2装上,L1用跳线取代,但基本上不影响电磁炉使用性能。' X# r0 i& G% q1 Y

. c" v1 n! f1 Q2 T1 A+ _& D2.18辅助电源
9 I9 \+ T9 v/ e  l$ @' g) i; w. ~; H9 T5 B7 }; m

# W7 ]8 q, G2 |# C7 |+ t: g1 CAC220V 50/60Hz电压接入变压器初级线圈,次级两绕组分别产生13.5V和23V交流电压。2 K  V' I1 G8 j4 u4 [3 j
13.5V交流电压由D3~D6组成的桥式整流电路整流、C37滤波,在C37上获得的直流电压VCC除供给散热风扇使用外,还经由IC1三端稳压IC稳压、C38滤波,产生+5V电压供控制电路使用。
: C! i& F3 i) O! |23V交流电压由D7~D10组成的桥式整流电路整流、 C34滤波后, 再通过由Q4、R7、ZD1、C35、C36组成的串联型稳压滤波电路,产生+22V电压供IC2和IGBT激励电路使用。3 R- r: _3 I+ q; A  D+ k) V! _

. n6 P- i8 I# M4 K) P' j3 @9 }2 u, `2.19 报警电路: l5 e( s( H( _1 W
9 d* j" e/ ?' J( u+ W2 g
$ V- K8 T% A6 k7 M* }6 C) M! K
电磁炉发出报知响声时,CPU14脚输出幅度为5V、频率3.8KHz的脉冲信号电压至蜂鸣器ZD,令ZD发出报知响声。
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% s* ~' v. ~( |" E( n9 f6 s: G- [三,故障维修3 i& R/ [  }" J7 K0 R; `# F

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458 系列须然机种较多,且功能复杂,但不同的机种其主控电路原理一样,区别只是零件参数的差异及CPU程序不同而己。电路的各项测控主要由一块8位4K内存的单片机组成,外围线路简单且零件极少,并设有故障报警功能,故电路可靠性高,维修容易,维修时根据故障报警指示,对应检修相关单元电路,大部分均可轻易解决。
$ w4 x/ E' H* o. x/ x
+ w! Z! Z. O( V' E& y3.2 主板检测标准
( x% z- {0 Y1 d/ E* g7 n9 n, O" @- T# [% }/ ~  h

0 q/ g/ ?1 [9 I4 _* p- c由于电磁炉工作时,主回路工作在高压、大电流状态中,所以对电路检查时必须将线盘(L1)断开不接,否则极容易在测试时因仪器接入而改变了电路参数造成烧机。接上线盘试机前,应根据3.2.1>对主板各点作测试后,一切符合才进行。
  H4 H3 T; K. I1 X2 |! N! B- p5 ?) E
3.2.1主板检测表9 I' n* `- h# m, c- g# {

' a) Q* x* t* ^( i& v7 V# \  H: H3.2.2主板测试不合格对策) r# E  t  G; u  Z. k
% }4 d$ K  J: U

& S+ H$ H, q9 D+ S" I, _4 J(1) 上电不发出“B”一声----如果按开/关键指示灯亮,则应为蜂鸣器BZ不良, 如果按开/关键仍没任何反应,再测CUP第16脚+5V是否正常,如不正常,按下面第(4)项方法查之,如正常,则测晶振X1频率应为4MHz左右(没测试仪器可换入另一个晶振试),如频率正常,则为IC3 CPU不良。
8 |$ u$ X" R- K/ z# n+ X) g
8 ~/ e' z: {/ V! ^3 c( E# I+ ^) K) a
(2) CN3电压低于305V----如果确认输入电源电压高于AC220V时,CN3测得电压偏低,应为C2开路或容量下降,如果该点无电压,则检查整流桥 DB交流输入两端有否AC220V,如有,则检查L2、DB,如没有,则检查互感器CT初级是否开路、电源入端至整流桥入端连线是否有断裂开路现象。
- ?/ z4 p5 Z9 G) n# J+ N
) E1 w, C0 h3 r! {: p1 N5 `# p
' F* }  ?" V5 W3 I(3) +22V故障----没有+22V时,应先测变压器次级有否电压输出,如没有,测初级有否AC220V输入,如有则为变压器故障, 如果变压器次级有电压输出,再测C34有否电压,如没有,则检查C34是否短路、D7~D10是否不良、Q4和ZD1这两零件是否都击穿, 如果C34有电压,而Q4很热,则为+22V负载短路,应查C36、IC2及IGBT推动电路,如果Q4不是很热,则应为Q4或R7开路、ZD1或C35 短路。+22V偏高时,应检查Q4、ZD1。+22V偏低时,应检查ZD1、C38、R7,另外, +22V负载过流也会令+22V偏低,但此时Q4会很热。/ ^$ w) y% e- `8 u$ i
+ b1 l  b) Q1 }5 l0 M. i6 U
! ~7 K, F6 o& S/ |" ~* H
(4) +5V故障----没有+5V时,应先测变压器次级有否电压输出,如没有,测初级有否AC220V输入,如有则为变压器故障, 如果变压器次级有电压输出,再测C37有否电压,如没有,则检查C37、IC1是否短路、D3~D6是否不良, 如果C37有电压,而IC4很热,则为+5V负载短路, 应查C38及+5V负载电路。+5V偏高时,应为IC1不良。+5V偏低时,应为IC1或+5V负载过流,而负载过流IC1会很热。
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  n3 s/ y, [& \8 \. v5 d' m# j1 e# U3 h& f. R5 A
(5) 待机时V.G点电压高于0.5V----待机时测V9电压应高于2.9V(小于2.9V查R11、+22V),V8电压应小于0.6V(CPU 19脚待机时输出低电平将V8拉低),此时V10电压应为Q8基极与发射极的顺向压降(约为0.6V),如果V10电压为0V,则查R18、Q8、 IC2D, 如果此时V10电压正常,则查Q3、Q8、Q9、Q10、D19。) ]0 V# L6 t& m/ l
& s8 z3 C' {8 y4 Q$ X6 |

0 R" e0 ^5 d- A5 v- l) L(6) V16电压0V----测IC2C比较器输入电压是否正向(V14>V15为正向),如果是正向,断开CPU第11脚再测V16,如果V16恢复为 4.7V以上,则为CPU故障, 断开CPU第11脚V16仍为0V,则检查R19、IC2C。如果测IC2C比较器输入电压为反向,再测V14应为3V(低于3V查R60、C19),再测D28正极电压高于负极时,应检查D27、C4,如果D28正极电压低于负极,应检查R20、IC2C。. `5 ]; C9 Y$ z5 @$ ~

) Z: j% ]+ c+ F2 A
; P: l- i9 f4 ^" y  p0 ](7) VAC电压过高或过低----过高检查R55,过低查C32、R79。  O* l% s' ?+ U! ~8 u) Y8 T* t7 u
& Y) S( ~$ E# d
" |" `: j4 X6 L& F
(8) V3电压过高或过低----过高检查R51、D16, 过低查R78、C13。& a! L# W: s2 |0 k, c$ Q

! Z$ V# L- b0 E+ z4 q& g. Q9 R4 t. q% r) V! ]: p# g
(9) V4电压过高或过低----过高检查R52、D15, 过低查R74、R75。/ W% O  J2 O2 h4 W, n
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. j* R. }7 v! z4 M% S
(10) Q6基极电压过高或过低----过高检查R53、D25, 过低查R76、R77、C6。
2 N8 c! Y* S% y
6 w" W8 _5 f" d' [
" _; Q# v; j# d8 S! i2 U(11) D24正极电压过高或过低----过高检查D24及接入的30K电阻, 过低查R59、C16。4 }" q. a  r8 q# e

8 p/ t: x; _* d2 \* e0 b( Q3 X6 p+ l" x8 k& _/ v
(12) D26正极电压过高或过低----过高检查D26及接入的30K电阻, 过低查R58、C18。
; r1 ?* K; i( R$ m8 G( L: k3 Y& M% U5 g9 X& A) I1 N+ O& w* _

& b( L. k  Z" O8 @(13) 动检时Q1 G极没有试探电压----首先确认电路符合>中第1~12测试步骤标准要求,如果不符则对应上述方法检查,如确认无误,测V8点如有间隔试探信号电压,则检查IGBT推动电路,如V8点没有间隔试探信号电压出现,再测Q7发射极有否间隔试探信号电压,如有,则检查振荡电路、同步电路,如果Q7发射极没有间隔试探信号电压,再测CPU第13脚有否间隔试探信号电压, 如有, 则检查C33、C20、Q7、R6,如果CPU第13脚没有间隔试探信号电压出现,则为CPU故障。
  @6 F7 l- p, ~: H* D$ r9 C9 j. L3 ?$ y1 [8 T% {7 Y

- n6 i: b. Q# b(14) 动检时Q1 G极试探电压过高----检查R56、R54、C5、D29。
( [$ T- C9 O4 `5 X3 w# m: R5 K+ M, e# S2 Q2 P3 z: N3 B& e9 L

5 w. ?: o3 s- x0 R& `(15) 动检时Q1 G极试探电压过低----检查C33、C20、Q7。
$ ~) f' a* ~: X5 a- i1 u" Q: b! f: |7 n5 L4 G  r( Q1 c' d

( F( s4 t' \0 V' r1 v$ Z1 {5 X(16) 动检时风扇不转----测CN6两端电压高于11V应为风扇不良,如CN6两端没有电压,测CPU第15脚如没有电压则为CPU不良,如有请检查Q5、R5。9 i8 r2 j2 t3 I2 W
+ Y* h" S; h- s1 R

  W: {$ A0 i, W8 z7 P4 t(17) 通过主板1~14步骤测试合格仍不启动加热----故障现象为每隔3秒发出“嘟”一声短音(数显型机种显示E1),检查互感器CT次级是否开路、C15、 C31是否漏电、D20~D23有否不良,如这些零件没问题,请再小心测试Q1 G极试探电压是否低于1.5V。
+ }- f: E, |- e% T  {" v- ?6 ?5 w# R8 E3 O% E6 @

: B% S2 ~" h8 H, K! h3.3 故障案例9 ?& D2 V& n9 U- D* u  P# i

- U- W/ C& [+ @# H% c6 y. D4 t. U6 H2 e: i' m0 O
3.3.1 故障现象1  放入锅具电磁炉检测不到锅具而不启动,指示灯闪亮,每隔3秒发出“嘟”一声短音(数显型机种显示E1), 连续1分钟后转入待机。
3 B- j  D& s# V8 V5 _
" g  ^+ ]; o1 }  g6 f
8 U6 c6 ]6 u; X8 t分 析  根椐报警信息,此为CPU判定为加热锅具过小(直经小于8cm)或无锅放入或锅具材质不符而不加热,并作出相应报知。根据电路原理,电磁炉启动时, CPU先从第13脚输出试探PWM信号电压,该信号经过PWM脉宽调控电路转换为控制振荡脉宽输出的电压加至G点,振荡电路输出的试探信号电压再加至 IGBT推动电路,

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 楼主| 发表于 2009-3-3 15:05:10 | 显示全部楼层
通过该电路将试探信号电压转换为足己另IGBT工作的试探信号电压,另主回路产生试探工作电流,当主回路有试探工作电流流过互感器CT 初级时,CT次级随即产生反映试探工作电流大小的电压,该电压通过整流滤波后送至CPU第6脚,CPU通过监测该电压,再与VAC电压、VCE电压比较, 判别是否己放入适合的锅具。从上述过程来看,要产生足够的反馈信号电压另CPU判定己放入适合的锅具而进入正常加热状态,关键条件有三个 4 E. z1 I$ {6 \  }2 @  t5 B
# i% l% U2 n& i& p
一是加入Q1 G极的试探信号必须足够,通过测试Q1 G极的试探电压可判断试探信号是否足够(正常为间隔出现1~2.5V),而影响该信号电压的电路有PWM脉宽调控电路、振荡电路、IGBT推动电路。
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二是互感器CT须流过足够的试探工作电流,一般可通测试Q1是否正常可简单判定主回路是否正常,在主回路正常及加至Q1 G极的试探信号正常前提下,影响流过互感器CT试探工作电流的因素有工作电压和锅具。6 {2 Q- y& c) e# C3 O' g  `. [
7 b( v6 r' k9 W1 ~, b
三是到达CPU第6脚的电压必须足够,影响该电压的因素是流过互感器 CT的试探工作电流及电流检测电路。以下是有关这种故障的案例:
% u. ~9 Z9 L. W
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, n. Z; F# I2 j(1) 测+22V电压高于24V,按3.2.2>第(3)项方法检查,结果发现Q4击穿。 结论  由于Q4击穿,造成+22V电压升高,另IC2D正输入端V9电压升高,导至加到IC2D负输入端的试探电压无法另IC2D比较器翻转,结果Q1 G极无试探信号电压,CPU也就检测不到反馈电压而不发出正常加热指令。
  z2 b9 Y( p* ?7 Q7 L% Z" k
& }) s! \) t& I! t, C  j1 q0 Z# V7 w' D. q
(2) 测Q1 G极没有试探电压,再测V8点也没有试探电压, 再测G点试探电压正常,证明PWM脉宽调控电路正常, 再测D18正极电压为0V(启动时CPU应为高电平),结果发现CPU第19脚对地短路,更换CPU后恢复正常。结论  由于CPU第19脚对地短路,造成加至IC2C负输入端的试探电压通过D18被拉低, 结果Q1 G极无试探信号电压,CPU也就检测不到反馈电压而不发出正常加热指令。1 W0 h2 U6 @) T* }; j( @5 i% [1 r" p
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+ n2 E, T8 o( G. L. c& m& Q( [
(3) 按3.2.1>测试到第6步骤时发现V16为0V,再按3.2.2 >第(6)项方法检查,结果发现CPU第11脚击穿, 更换CPU后恢复正常。结论  由于CPU第11脚击穿, 造成振荡电路输出的试探信号电压通过D17被拉低, 结果Q1 G极无试探信号电压,CPU也就检测不到反馈电压而不发出正常加热指令。
, f+ [; N" U( U0 q. @, Q& Q, D5 B6 r! _( k2 ]1 q+ @

9 S* d- {, H( b5 m- [8 M( U. n3 o(4) 测Q1 G极没有试探电压,再测V8点也没有试探电压, 再测G点也没有试探电压,再测Q7基极试探电压正常, 再测Q7发射极没有试探电压,结果发现Q7开路。结论  由于Q7开路导至没有试探电压加至振荡电路, 结果Q1 G极无试探信号电压,CPU也就检测不到反馈电压而不发出正常加热指令。- B- Q. o9 f. }' g; R/ f
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5 m# t1 D: X6 j$ {! c; J
(5) 测Q1 G极没有试探电压,再测V8点也没有试探电压, 再测G点也没有试探电压,再测Q7基极也没有试探电压, 再测CPU第13脚有试探电压输出,结果发现C33漏电。结论  由于C33漏电另通过R6向C33充电的PWM脉宽电压被拉低,导至没有试探电压加至振荡电路, 结果Q1 G极无试探信号电压,CPU也就检测不到反馈电压而不发出正常加热指令。3 v; q) j9 I- i1 H0 f& F
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" G' W+ M( F0 @; G7 ], n(6) 测Q1 G极试探电压偏低(推动电路正常时间隔输出1~2.5V), 按3.2.2>第(15)项方法检查,结果发现C33漏电。结论  由于C33漏电,造成加至振荡电路的控制电压偏低,结果Q1 G极上的平均电压偏低,CPU因检测到的反馈电压不足而不发出正常加热指令。! M0 U- d" w! U" N

* {. q: G& k# C0 l8 E2 X
. t4 F. X; [6 a: I/ |(7) 按3.2.1>测试一切正常, 再按3.2.2>第(17) 项方法检查,结果发现互感器CT次级开路。结论  由于互感器CT次级开路,所以没有反馈电压加至电流检测电路, CPU因检测到的反馈电压不足而不发出正常加热指令。' j, h8 B0 G7 N/ D8 m
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(8) 按3.2.1>测试一切正常, 再按3.2.2>第(17) 项方法检查,结果发现C31漏电。结论  由于C31漏电,造成加至CPU第6脚的反馈电压不足, CPU因检测到的反馈电压不足而不发出正常加热指令。, O7 H: U# T% C
& }1 t( b+ k% a% W7 l/ G; i" e2 m
/ r% \7 m! T1 ^5 r
(9) 按3.2.1>测试到第8步骤时发现V3为0V,再按3.2.2 >第(8)项方法检查,结果发现R78开路。结论  由于R78开路, 另IC2A比较器因输入两端电压反向(V4>V3),输出OFF,加至振荡电路的试探电压因IC2A比较器输出OFF而为0,振荡电路也就没有输出, CPU也就检测不到反馈电压而不发出正常加热指令。+ O9 H0 ~, e7 H; N$ A

8 y1 l4 Q. S+ p% X) o' s' H' B; }- e1 E( \5 R. k3 _
3.3.2 故障现象2  按启动指示灯指示正常,但不加热。
1 G' Z; G6 A0 E$ ]/ W9 n) f* u1 ?) a8 N# \. Q" y

& f7 E7 G: u# R3 Y0 R& f分 析  一般情况下,CPU检测不到反馈信号电压会自动发出报知信号,但当反馈信号电压处于足够与不足够之间的临界状态时,CPU发出的指令将会在试探→正常加热 →试探循环动作,产生启动后指示灯指示正常, 但不加热的故障。原因为电流反馈信号电压不足(处于可启动的临界状态)。" q/ u6 L7 U: q* o$ f' B" h
+ a1 U; V- b" j' V5 }
  a, h: i& t' ^: W7 g
处理 方法  参考3.3.1 >第(7)、(9)案例检查。/ E# [, Y5 i' {8 X1 B0 Q

9 U. J; u1 d) {$ A& Q. E0 X6 a
: f" I. X1 S8 r8 D3 Q+ Y& t3.3.3 故障现象3  开机电磁炉发出两长三短的“嘟”声((数显型机种显示E2),响两次后电磁炉转入待机。7 J5 A/ L& p' D

+ `' J5 z, n, c- n: C
) \1 n& k9 k; n& C+ S7 m( a分 析  此现象为CPU检测到电压过低信息,如果此时输入电压正常,则为VAC检测电路故障。
0 r1 v, A2 ^; ^) q' \& P# }: O处理 方法  按3.2.2>第(7)项方法检查。8 ~% f% B1 I3 H1 P

* {: Z6 \' a6 M9 F& @- u+ N2 \9 B$ i* P5 I2 a* `; k6 s- U
3.3.4 故障现象4  插入电源电磁炉发出两长四短的“嘟”声(数显型机种显示E3)。
3 K. }( c" H4 R- s1 j分 析  此现象为CPU检测到电压过高信息,如果此时输入电压正常,则为VAC检测电路故障。
% X" G( |, G2 H处理 方法  按3.2.2>第(7)项方法检查。9 Y4 a3 }0 ^& K
, _! c/ _: o: `, {$ _8 ?! x2 M
9 c/ I' c; W* a  y3 {
3.3.5 故障现象5  插入电源电磁炉连续发出响2秒停2秒的“嘟”声,指示灯不亮。% W7 _" t9 a, z. x3 K- e
分 析  此现象为CPU检测到电源波形异常信息,故障在过零检测电路。* z  T0 b# g: n. }) r. |/ B
处理 方法  检查零检测电路R73、R14、R15、Q11、C9、D1、D2均正常,根据原理分析,提供给过零检测电路的脉动电压是由D1、D2和整流桥DB内部交流两输入端对地的两个二极管组成桥式整流电路产生,如果DB内部的两个二极管其中一个顺向压降过低,将会造成电源频率一周期内产生的两个过零电压其中一个并未达到0V(电压比正常稍高),Q11在该过零点时间因基极电压未能消失而不能截止,集电极在此时仍为低电平,从而造成了电源每一频率周期CPU检测的过零信号缺少了一个。基于以上分析,先将R14换入3.3K电阻(目的将Q11基极分压电压降低,以抵消比正常稍高的过零点脉动电压),结果电磁炉恢复正常。虽然将R14换成3.3K电阻电磁炉恢复正常,但维修时不能简单将电阻改3.3K能彻底解决问题,因为产生本故障说明整流桥DB特性已变,快将损坏, 所己必须将R14换回10K电阻并更换整流桥DB。3 j3 \4 u7 |- \; I; q% {; r$ I) y
  _$ K7 O) c* G  y! l* j' h
) T6 t% t" A; f  c1 }
3.3.6 故障现象6  插入电源电磁炉每隔5秒发出三长五短报警声(数显型机种显示E9)。7 Q. s  w- V: @- ~, [
分析  此现象为CPU检测到按装在微晶玻璃板底的锅传感器(负温系数热敏电阻)开路信息,其实CPU是根椐第8脚电压情况判断锅温度及热敏电阻开、短路的,而该点电压是由R58、热敏电阻分压而成,另外还有一只D26作电压钳位之用(防止由线盘感应的电压损坏CPU) 及一只C18电容作滤波。4 c# _( f! G  m2 Y) G
0 E# T- {" H6 x; H4 |7 U( x2 U$ K

7 q, Q6 a) l5 b. `处理 方法  

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 楼主| 发表于 2009-3-3 15:05:11 | 显示全部楼层
检查D26是否击穿、锅传感器有否插入及开路(判断热敏电阻的好坏在没有专业仪器时简单用室温或体温对比>阻值)。7 i0 m" d) G/ }' v' v9 {8 s
- D5 S# r7 L7 Q/ I4 f
- P: R2 O) K1 N. `
3.3.7 故障现象7  插入电源电磁炉每隔5秒发出三长四短报警声(数显型机种显示EE)。
8 z3 z  K1 n" ~0 a1 ]分析  此现象为CPU检测到按装在微晶玻璃板底的锅传感器(负温系数热敏电阻)短路信息,其实CPU是根椐第8脚电压情况判断锅温度及热敏电阻开/短路的,而该点电压是由R58、热敏电阻分压而成,另外还有一只D26作电压钳位之用(防止由线盘感应的电压损坏CPU)及一只C18电容作滤波。, ?+ X$ E, n* M% P( G
+ g, C' b. V& l) v

3 i: c  U. m" G. t4 u% P处理 方法  检查C18是否漏电、R58是否开路、锅传感器是否短路(判断热敏电阻的好坏在没有专业仪器时简单用室温或体温对比>阻值)。
7 ^& V5 F* C( H( `
+ ]) X, u1 G- U
2 i4 n3 o) t& j& s! n+ Q! x3.3.8 故障现象8  插入电源电磁炉每隔5秒发出四长五短报警声(数显型机种显示E7)。3 F, X' x8 J. M  T: e
分析  此现象为CPU检测到按装在散热器的TH传感器(负温系数热敏电阻)开路信息,其实CPU是根椐第4脚电压情况判断散热器温度及TH开/短路的,而该点电压是由R59、热敏电阻分压而成,另外还有一只D24作电压钳位之用(防止TH与散热器短路时损坏CPU) ,及一只C16电容作滤波。
# N0 p0 w, V* _8 L2 k2 O+ G9 H6 i/ n( }* i* c

" W' c$ S+ ?+ M4 |7 C处理 方法  检查D24是否击穿、TH有否开路(判断热敏电阻的好坏在没有专业仪器时简单用室温或体温对比>阻值)。* M: ?3 i* x$ o2 i$ {

8 O; j- b3 Z0 [0 {. \. x. D6 z& a
4 Z0 Q* l: l9 d3 Y2 g3.3.9 故障现象9  插入电源电磁炉每隔5秒发出四长四短报警声(数显型机种显示E8)。
( z3 m- X9 E9 E1 ^5 u0 C3 F分析  此现象为CPU检测到按装在散热器的TH传感器(负温系数热敏电阻) 短路信息,其实CPU是根椐第4脚电压情况判断散热器温度及TH开/短路的,而该点电压是由R59、热敏电阻分压而成,另外还有一只D24作电压钳位之用 (防止TH与散热器短路时损坏CPU) 及一只C16电容作滤波。& Y$ @- e0 m) k( }( h* F
" ~0 g. y; G2 |! Y4 t  |$ J  y

0 K% o+ g4 _* A% _& u0 H' H处理 方法  检查C16是否漏电、R59是否开路、TH有否短路(判断热敏电阻的好坏在没有专业仪器时简单用室温或体温对比>阻值)。
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3.3.10 故障现象10  电磁炉工作一段时间后停止加热, 间隔5秒发出四长三短报警声, 响两次转入待机(数显型机种显示E0)。
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9 p' S  j' \; m" Y/ W分 析  此现象为CPU检测到IGBT超温的信息,而造成IGBT超温通常有两种,一种是散热系统,主要是风扇不转或转速低,另一种是送至IGBT G极的脉冲关断速度慢(脉冲的下降沿时间过长),造成IGBT功耗过大而产生高温。
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处理 方法  先检查风扇运转是否正常,如果不正常则检查Q5、R5、风扇, 如果风扇运转正常,则检查IGBT激励电路,主要是检查R18阻值是否变大、Q3、Q8放大倍数是否过低、D19漏电流是否过大。+ l) {  F1 Y( D6 N- U9 m2 J

  V! B# d7 H; |# L0 y% U) M) Q5 Q8 ~6 ^0 v$ H! ~1 z
3.3.11 故障现象11  电磁炉低电压以最高火力档工作时,频繁出现间歇暂停现象。# r& l0 q& x+ {! H; y( E& e
分 析  在低电压使用时,由于电流较高电压使用时大,而且工作频率也较低,如果供电线路容量不足,会产生浪涌电压,假如输入电源电路滤波不良,则吸收不了所产生的浪涌电压,会另浪涌电压监测电路动作,产生上述故障。
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! I/ S% o: K7 v. a: E6 n  _, F处理 方法  检查C1容量是否不足,如果1600W以上机种C1装的是1uF,将该电容换上3.3uF/250VAC规格的电容器。
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$ ?/ K2 x0 b7 ?4 W2 {5 Y3.3.12 故障现象12  烧保险管。$ }2 U# q1 a2 K

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分析  电流容量为15A的保险管一般自然烧断的概率极低,通常是通过了较大的电流才烧,所以发现烧保险管故障必须在换入新的保险管后对电源负载作检查。通常大电流的零件损坏会另保险管作保护性溶断,而大电流零件损坏除了零件老化原因外,大部分是因为控制电路不良所引至,特别是IGBT,所以换入新的大电流零件后除了按3.2.1>对电路作常规检查外,还需对其它可能损坏该零件的保护电路作彻底检查,IGBT损坏主要有过流击穿和过压击穿,而同步电路、振荡电路、IGBT激励电路、浪涌电压监测电路、VCE检测电路、主回路不良和单片机(CPU)死机等都可能是造成烧机的原因, 以下是有关这种故障的案例:+ D7 t. _) Q- K
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- v9 o: M8 L& w4 G  j) P* V+ z(1) 换入新的保险管后首先对主回路作检查,发现整流桥DB、IGBT击穿,更换零件后按3.2.1>测试发现+ 22V偏低, 按3.2.2>第(3) 项方法检查,结果为Q3、Q10、Q9击穿另+22V偏低, 换入新零件后再按>测试至第9步骤时发现V4为0V, 按3.2.2>第(9) 项方法检查,结果原因为R74开路,换入新零件后测试一切正常。结论  由于R74开路,造成加到Q1 G极上的开关脉冲前沿与Q1上产生的VCE脉冲后沿相不同步而另IGBT瞬间过流而击穿, IGBT上产生的高压同时亦另Q3、Q10、Q9击穿,由于IGBT击穿电流大增,在保险管未溶断前整流桥DB也因过流而损坏。5 T! Z& T  D2 D: B0 ?, _
2 ?* C, q; l1 |6 d+ S

* ^& s7 Q4 s! k( I6 e0 v(2) 换入新的保险管后首先对主回路作检查,发现整流桥DB、IGBT击穿,更换零件后按3.2.1>测试发现+ 22V偏低, 按3.2.2>第(3) 项方法检查,结果为Q3、Q10、Q9击穿另+22V偏低, 换入新零件后再按>测试至第10步骤时发现Q6基极电压偏低, 按3.2.2>第(10) 项方法检查,结果原因为R76阻值变大,换入新零件后测试一切正常。结论  由于R76阻值变大,造成加到Q6基极的VCE取样电压降低,发射极上的电压也随着降低,当VCE升高至设计规定的抑制电压时, CPU实际监测到的VCE取样电压没有达到起控值,CPU不作出抑制动作,结果VCE电压继续上升,最终出穿IGBT。IGBT上产生的高压同时亦另 Q3、Q10、Q9击穿,由于IGBT击穿电流大增,在保险管未溶断前整流桥DB也因过流而损坏。
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+ c( ?# V; g+ f% q; z1 D(3) 换入新的保险管后首先对主回路作检查,发现整流桥IGBT击穿,更换零件后按3.2.1>测试,上电时蜂鸣器没有发出“B”一声,按3.2.2>第(1) 项方法检查,结果为晶振X1不良,更换后一切正常。结论  由于晶振X1损坏,导至CPU内程序不能运转,上电时CPU各端口的状态是不确定的,假如CPU第13、19脚输出为高,会另振荡电路输出一直流另 IGBT过流而击穿。本案例的主要原因为晶振X1不良导至CPU死机而损坏IGBT。

该用户从未签到

发表于 2012-1-11 13:59:04 | 显示全部楼层
向你学习,感谢你的资料。。

该用户从未签到

发表于 2012-9-13 02:25:52 | 显示全部楼层
好贴子不多啊  
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